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搭配probe card测试适用领域:8寸/6寸wafer、ic测试之产品电动型chuck尺寸1200mm,测试仪厂商,平坦度土1u(不锈钢或镀金)x,y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u可搭配mitutoyo晶像显微镜或者aec实体显微镜针座摆放个数8~12颗显微镜x-y-z移动范围2“x2”x2“材质:花岗岩台面+不锈钢可搭配probe card测试

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