搭配probe card测试适用领域：8寸/6寸wafer、ic测试之产品电动型chuck尺寸1200mm，测试治具供应，平坦度土1u（不锈钢或镀金）x，y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u可搭配mitutoyo晶像显微镜或者aec实体显微镜针座摆放个数8～12颗显微镜x-y-z移动范围2“x2”x2“材质：花岗岩台面+不锈钢可搭配probe card测试
使用。治具未来编辑 ---在进入自动化和数控系统机器后，治具已经不那么被需要，测试治具怎么用，因为工具路径已经被数位化并储存在内存中，但“夹具”仍被普遍地被继续使用。治具着重在工作和导引工具；夹具则着重于握持工具在一个固定的位置。有一些同时具有这两种功能（控制和导引工具）的装置也被称为治具，但只握持但不具引导工具的装置则被称为“夹具”而非“治具”。在进入数控系统时代后已经减少了治具的使用。
同品牌ict的测试原理相同或相似。上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，代表的有日本tescon，okano，使得ict简单易用并低成本，使之成为电子厂不可或缺的---检测设备，大兴安岭地测试治具，并迅速推广普及。80年代台湾由令西方头疼的电子电脑---来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，台湾开始完全tescon测试仪。
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